14 травня о 14.30 відбулася гостьова лекція «Metrology in nanoscience» стейкхолдера освітньої наукової програми 105 Прикладна фізика та наноматеріали (третій науково-освітній рівень) дійсного члена Академії метрології України, проф. д.ф.-м.н. Вашпанова Юрія Олександровича (Одеська державна академія будівництва та архітектури). Мовою лекції було обрано англійську. На лекції були присутні аспіранти другого року навчання (Юрій Бондарук, Сівак Ігор та Тужиков Андрій) та третього року навчання (Попряга Діана) університету Ушинського, а також аспірант другого року навчання Інституту прикладної фізики НАН України (Дригайло Валентина). Також лекцію відвідали проф. університету Ушинського, д.ф.-м.н. Гохман Олександр Рафаїлович, д.ф.-м.н. проф. Ків Арик Юхимович, доцент, к.ф.-м.н. Дончев Іван Іванович доцент, к.ф.-м.н., асистент Дончев Іван Іванович та проф. Львівської Політехніки, д.ф.-м.н. Пелещак Роман Михайлович. Зміст лекції «Metrology in nanoscience» був дотичний до дисциплін "Фізичні основи сенсорної електроніки" та "Обернені задачі рентгенівської та нейтронної дифракції", що викладаються в другому семестрі аспірантам другого року навчання, а також може стати в нагоді при проведені досліджень властивостей наноструктур. Наприкінці лекції професор Вашпанов відповів на численні запитання слухачів.